中小企業庁長官奨励賞

ヘーズメーター（特許第3341212号）

【発明協会（東京）】

村松　学	スガ試験機株式会社　執行役員　技術開発部　部長

実 施 功 績 賞

須賀　茂雄

スガ試験機株式会社　代表取締役社長

　本発明は、プラスチック、ガラス、フィルムや液体など透明性物質の曇り度合い（ヘーズ値）を光を透過させて評価するヘーズメーター（写真1）において、試料を適切に設置でき、校正が簡便で、装置の誤差を補正可能とすることで容易に正確な測定ができる技術である。
　具体的には、ヘーズメーターにはじめてダブルビーム測定方式を用い、光源からの光を測定光路と補償光路の２光路に分け、積分球の入口開口および補償開口に導く構造とし、ＩＳＯ、ＪＩＳなどの規格に記載の補償開口方法を試料の置き換えなしで実現した。さらに、補償光路により常に光源の光量の変動を補正可能とした。また、光路の構成部品を移動可能な基板上に配置した。さらに、はじめてヘーズ標準板（写真2）による装置校正方法を実現した｡
　これにより、①煩雑な校正作業が不要で装置の校正が簡便、常に光量の変動を補正し安定した測定ができる、②どのような形状の試料でも容易に正確な設置が可能となる、③積分球の汚れや受光器の劣化など経年劣化による測定誤差の補正ができる。上記①〜③の効果により、信頼性のある測定結果が得られるようになった。

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